汞探針測試

產(chǎn)品簡介
LEI Model2017B，通過汞探針接觸方法，對各類半導體材料的載流子濃度分布進行測試，特別適合GaN.SiC等化合物材料。

產(chǎn)品型號：LEI Model2017B

更新時間：2025-09-16

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導體材料測試

體微缺陷測試霍爾電阻遷移率光伏光致發(fā)光深能級瞬態(tài)譜測試橢偏拉曼AFM 半導體多功能測試 CV測試系統(tǒng)集成測試儀器租賃

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